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露點儀
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冷鏡式精密露點儀原理是利用半導體的帕爾帖效應。目前采用五級制冷的露點儀低露點檢測溫度可以達到一80℃,制冷元件的熱端一般采用水冷的方式,如果制冷元件的熱端采用壓縮機制冷,露點檢測溫度可以進一步擴展到一100℃。
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